CMOS与PMT检测器在火花OES分析中的应用比较

商用火花直读光谱仪（OES）仪器的性能和成本取决于很多因素，但其中很大一部分是仪器内的检测器技术。

互补金属氧化物半导体（CMOS）检测器专为最新一代OES光谱仪开发，取代光电倍增管（PMT）（一种仍为工业用途制造的真空技术）和基于半导体的电荷耦合器件（CCD）。 

这就是像我们这样的制造商选择CMOS检测器来确保灵活性的原因，由此可确保我们的客户始终配备最新软件。

用于光检测的CMOS芯片

CMOS是一种在集成电路中广泛使用的半导体拓扑技术。相比于最初的双极晶体管技术，CMOS的主要优势是高速和几乎为零的静态功耗，因此可将更多器件塞进小空间中，而不会出现过热现象。这就是为什么如今的微处理器、RAM和ASIC（仅举几例）由基于CMOS的器件主导。

在光检测中使用CMOS技术时，这些器件的工作方式与CCD非常相似。目前有一个可将多种波长的入射光转换为电信号的光敏像素阵列。

CMOS并非新技术，但这项技术近期得到发展，使之在光学应用中更高效、更少噪声。此外，由于CMOS生产非常普遍，因此与专业CCD制造相比，其相对便宜，这就是为什么相机制造商开始选择CMOS（而非CCD）来制作数码单反相机的图像捕捉部分。

CMOS芯片在多路复用读出电子设备中的运转速度也很快。因此，可将CMOS芯片用于重视速度的领域（例如，分析任务）。

日立OE系列

日立的OES仪器使用CCD（电荷耦合器件），但日立最新推出的OE系列除外，该系列使用CMOS检测器。这两种类型的检测器均基于半导体，可通过定制来覆盖光学系统内的整个光谱。

OE系列将基于CMOS检测器的范围、灵敏度与全新光学设计相结合，提供通常只有成本更高的仪器才能达到的高性能。OE系列的运行成本较低且占用空间相对较小，可检测金属中的所有元素（包括气体元素）。（文本摘至日立分析仪器微博，版权归作者所有，仅用于技术交流，如有疑问请与我司联系。）

   日立光谱仪系列   

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